（免費(fèi)下載）GB/T 20111.3-2016 電氣絕緣系統(tǒng) 熱評(píng)定規(guī)程 第3部分:包封線圈模型的特殊要求 散繞繞組電氣絕緣系統(tǒng)(EIS)
1 范圍
1 范圍
GB/T 20111的本部分規(guī)定了用于評(píng)定包封散繞繞組EIS的包封線圈模型(ECM)。
2 規(guī)范性引用文件
2 規(guī)范性引用文件
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IEC 61857-1：2004 電氣絕緣系統(tǒng) 熱評(píng)定規(guī)程 第1部分：通用要求 低壓(Electrical insulation systems-Procedures for thermal evaluation-Part 1：General requirements-Low-voltage)
3 術(shù)語(yǔ)和定義
3.1 包封劑 encapsulant
除和外部的連接外完全包住線圈的電氣絕緣材料，也是電氣絕緣系統(tǒng)的組分之一。
注：包封線圈模型不使用附件外殼。
3.2 包封 encapsulation
使用包封劑的工藝過(guò)程。
注：根據(jù)評(píng)定電氣絕緣系統(tǒng)的需要，工藝過(guò)程可由注塑、壓鑄、澆注或其他方法組成。
3.3 線圈架 bobbin
繞制線圈的模具。
3.4 線圈 coil
連續(xù)纏繞的絕緣導(dǎo)線。
3.5 線圈間絕緣 coil-to-coil insulation
線圈間的電氣絕緣材料。
3.6 接地 ground
在系統(tǒng)、裝置或設(shè)備中的某點(diǎn)和大地之間的電氣連接。
3.7 對(duì)地絕線 ground insulation
線圈和接地之間的電氣絕緣材料。
4 結(jié)構(gòu)
4.1 概述
ECM適用于評(píng)定在待評(píng)EIS中所使用EIM的相容性，要能夠模擬實(shí)際制造過(guò)程的影響，例如繞線工藝、接線工藝和封裝工藝。
ECM的主要部件是線圈架、繞組線、連接線和包封劑。
繞組線可以連接到穿過(guò)包封壁的接線柱或引接線上。
4.2 ECM組分
包封線圈模型組分包括如下幾部分：
a）線圈：可由兩股線并繞（雙股繞制）或單股繞制；
b）電磁線：厚膜涂敷的繞組線，線徑優(yōu)先使用0.4mm～0.6mm；
c）對(duì)地絕緣：線圈架所用的EIM和具有線圈-對(duì)地絕緣功能的作為包封劑的EIM。只作為線圈架絕緣評(píng)定過(guò)的EIM不能同時(shí)作為包封材料使用，作為包封劑使用的EIM同樣要被評(píng)定；
d）電工帶：除非承受電應(yīng)力并進(jìn)行評(píng)定，否則電工帶不能作為EIS的部件；
e）連接線：在包封劑內(nèi)部，連接至接線柱或引接線的繞組線，是ECM的基本部件；
f）電氣浸漬樹脂/漆：若在包封工藝之前使用，是EIS的部件。
注：若與試品合為一體的金屬框架或疊片不具有失效路徑功能，則它不是試品的基本部件。
4.3 組裝ECM
ECM的組裝如下：
a）用公認(rèn)的繞線工藝將繞組線繞制在線圈架上；
b）使用電工綁扎帶或其他組件在適當(dāng)位置固定繞組線；
c）把繞組線連接到接線柱或引接線上；
d）若是待評(píng)EIS的部件，則用浸漬樹脂/漆處理；
e）使用包封材料。
4.4 基準(zhǔn)ECM和待評(píng)ECM的相似性
基準(zhǔn)ECM和待評(píng)ECM的外形和組裝應(yīng)相似。最基本的是基準(zhǔn)ECM和待評(píng)ECM用的繞組線之間的線徑誤差不超過(guò)±0.2mm。更多信息參見(jiàn)附錄A。應(yīng)按照IEC 61857-1：2004中7.4，在報(bào)告中詳細(xì)說(shuō)明基準(zhǔn)ECM和待評(píng)ECM的結(jié)構(gòu)。
5 試品數(shù)量
5 試品數(shù)量
每種EIS在每一老化溫度點(diǎn)的試品數(shù)量應(yīng)至少10個(gè)。
6 試驗(yàn)規(guī)程
6.1 概述
所有試品應(yīng)經(jīng)過(guò)初始篩選試驗(yàn)，然后按照以下順序進(jìn)行反復(fù)循環(huán)的分周期耐熱性試驗(yàn)：
a）熱老化分周期；
b）按順序進(jìn)行的預(yù)診斷機(jī)械應(yīng)力、其他預(yù)診斷要求和潮濕曝露的分周期；
c）介電診斷試驗(yàn)。
7 壽命終點(diǎn)判定
7 壽命終點(diǎn)判定
單個(gè)試樣的壽命終點(diǎn)判定應(yīng)是ECM承受表2所示電壓在規(guī)定的時(shí)間周期內(nèi)發(fā)生失效。應(yīng)確定失效原因。若失效發(fā)生在EIS內(nèi)部，則ECM不再進(jìn)行下一步試驗(yàn)。若失效未發(fā)生在EIS內(nèi)部，且能進(jìn)行不影響EIS的修理，則ECM可重試，若通過(guò)則返回試驗(yàn)。
8 分析、報(bào)告和分級(jí)
8 分析、報(bào)告和分級(jí)
分析、報(bào)告和分級(jí)應(yīng)按照IEC 61857-1：2004的第7章。
附錄A 基準(zhǔn)試樣和待評(píng)試樣的相似性
附錄A
（資料性附錄）
基準(zhǔn)試樣和待評(píng)試樣的相似性
本部分集中對(duì)試品的研究遵循一種經(jīng)濟(jì)的方法。本部分主要關(guān)注的是試圖規(guī)定專一的或優(yōu)選尺寸的試品可能導(dǎo)致的昂貴費(fèi)用。這些建議要求公司在模具上做出較大的經(jīng)濟(jì)投資，而且很可能該模具只能用于評(píng)定待評(píng)EIS的試品制作，而不能作為最終用途設(shè)備。這不是一個(gè)可接受的方法。
經(jīng)驗(yàn)表明，對(duì)評(píng)定待評(píng)包封ESI感興趣的公司能提供便于使用的并可接受的試品模具。為了保持合理的試驗(yàn)費(fèi)用，本部分已認(rèn)識(shí)到并支持在試品設(shè)計(jì)上要有靈活性。
另外，所有按照GB/T 20111進(jìn)行的EIS批評(píng)定是在基準(zhǔn)EIS和待評(píng)EIS間進(jìn)行相對(duì)比較。若兩種EIS的設(shè)計(jì)相似，就可達(dá)到對(duì)比的目的。因此，對(duì)試品結(jié)構(gòu)的物理形狀和裝配上的陳述應(yīng)彼此相似，要考慮到不同壁厚、不同結(jié)構(gòu)的線圈架壁和/或不同種類的包封劑的評(píng)定。
經(jīng)驗(yàn)還表明，因?yàn)榻殡娔蛪簯?yīng)力是恒定的，線規(guī)的顯著差異會(huì)改變給定老化溫度下的壽命。在試驗(yàn)規(guī)程中介電耐受應(yīng)力和給定老化溫度下的壽命小時(shí)數(shù)之間必定是相關(guān)的。據(jù)此，本部分中包含的導(dǎo)則建議當(dāng)基準(zhǔn)EIS和待評(píng)EIS所用的電磁線之間的線徑不同時(shí)，所用的線徑彼此間差值應(yīng)在0.2mm以內(nèi)。
